为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求,加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品,最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输,Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式,兼容Jtype针卡,较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard,可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性,为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。
为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求,加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。
该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品,最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输,Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式,兼容Jtype针卡,较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard,可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性,为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。
ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具,方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试,提供专用的工厂界面,并拥有丰富的数据记录和分析工具。
ST5000系列数字混合信号测试系统可以广泛应用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指纹芯片、PMIC、PA、射频开关、滤波器等黄金城晶圆、 器件测试和模块系统级测试。
板卡型号 | 详细规格 |
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SCB | 实现整个模块板卡互联和控制 提供8个业务槽位,对外提供级联接口、调试串口 |
DFB32H | 集成数字、模拟混合信号测试功能 32ch数字通道:500Mbps/1Gbps数据速率,每通道192M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达3GB,高速通信架构,Pattern加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率,突破传统Format限制,由用户自定义波形,128组timing set, 6 edge可调,输入输出自由转换 |
4ch DPS:最大输出电流±500mA,输出电压范围-3.25V to 8.4V,支持Gang模式 | |
32ch PPMU:输出电流范围±40mA,输出电压范围-2V to 6.5V | |
4ch BPMU:输出电流范围-60 to 80mA,输出电压范围-2V to 9.25V | |
4ch TMU:最高100MHz | |
1ch AWG:16bit 2Msps,波形存储深度64MB,单端输出 | |
1ch DGT:16bit 1Msps,波形存储深度64MB,单端输入 | |
8ch CBIT:输出电压5V,驱动电流最大100mA | |
4ch GPIO:通用IO接口,可以配置为I2C,SPI等低速接口 | |
配置 | 2SCB+16业务板(DFB32) |
4SCB+32业务板(DFB32) |
根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置
ST5000混合信号测试系统 | 512数字通道,512PPMU通道,64DPS | ||
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ST5000HD混合信号测试系统 | 1024数字通道,1024PPMU通道,128DPS |
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