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整车及控制器在环测试（X-in-the-Loop）
在控制策略开发到测试的各个阶段引?在环测试（X-in-the-Loop），已被证明是?种有效的软硬件结合测试的解决?法，可确保在功能开发的早期阶段即完成嵌?式测试，到系统整合阶段时的测试就要?传统的测试?法验证得更加彻底和全?。
以硬件在环测试为代表的各种在环测试?段可?于电动汽?中各类控制器的功能测试，包括但不限于三电控制器（VCU/BMS/MCU/OBC等）、V2X和ADAS控制器、智能化底盘控制器、域控制器和中央?关等，通过模拟控制器在不同?作条件下的?作环境，实现控制算法验证和故障诊断测试。
三电联调硬件在环（HiL）测试系统
HiL仿真被证明是一种有效的解决方法。该技术能确保在开发周期早期就完成嵌入式软件的测试。到系统整合阶段开始时，嵌入式软件测试就要比传统方法做得更彻底更全面。
HiL测试系统用于电动汽车中ECU控制功能的测试，MCU-HiL、BMS-HiL、VCU-HiL、FCU-HiL等通过模拟ECU在不同工作条件下的工作环境，实现 控制算法验证和故障诊断测试。
产品特点
新能源汽车区别于传统车核心的技术是“三电”，包括电驱动，电池，电控；随着新能源三电系统技术日渐成熟，动力系统匹配性能逐步成为新能源汽车整车性能的决定性因素之一。集成的三电联调系统越来越得到众多新能源整车厂的重视，此系统包含VCU HiL、BMS HiL、MCU HiL硬件在环测试系统,可以对VCU、BMS、MCU（控制板）进行独立测试和三电联调测试。
黄金城基于动力域实验台，开发出包含电池管理系统（BMS）、电机控制器（MCU）及整车控制器（HCU/VCU）的三电联调仿真测试系统，从而实现三个控制器的联合测试功能。
本测试系统中VCU HiL、BMS HiL、MCU HiL基于NI产品进行搭建，具有极强的扩展性和通用性，VCU HiL配合上位机可独立完成VCU控制器HiL测试，BMS HiL配合上位机可独立完成BMS控制器HiL测试，MCU HiL配合上位机可独立完成MCU控制器HiL测试。VCU HiL、BMS HiL、MCU HL可通过PXI机箱背板时钟进行时钟同步和反射内存板卡进行数据交互完成VCU、BMS、MCU联合测试。
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